第16届IEEE国际集成电路物理与失效分析会议(IPFA2009)将于2009年7月6日-10日在苏州举行,会议由IEEE南京分会主办,IEEE Reliability/CPMT/ED新加坡分会协办、由IEEE电子器件协会与IEEE可靠性协会提供技术支持。(具体范围可以查看附件)
IPFA国际会议论文集是国际检索机构EI(工程引文检索)的源刊,论文全文被EI收录与检索,EI的分类编号为002346,同时被IEEE Xplore数据库收录,并且论文全文都将以统一书号被收入IEEE会议论文集,并在IEEE网站上刊登电子版,最佳论文将在ESREF和ISTFA上交换发表。
IPFA是全球有关半导体物理分析、失效分析及可靠性方面学术水平最高、规模最大、影响最广的国际会议,2009年第一次在中国召开。会议将邀请中、美、欧洲、新加坡、日本及亚太其他各国专家作大会报告和分会邀请报告。这次会议将是国内外该领域的研究人员之间交流信息和了解国际、国内最新进展的一次很好的机会。会议将为期五天,包括两天的技术交流与培训讲座、三天的论文发表与研讨,同时并行三天的设备展览。
我谨代表IPFA新加坡董事会、IEEE 南京分会和IPFA 2009 组委会正式向您发出论文投稿邀请。欢迎参与IPFA并与大量国内外同行一起探讨。也欢迎您向身边的同事、朋友、员工或其他对IPFA 2009 感兴趣的朋友宣传IPFA 2009并转发 “论文征稿通知”,我们对此表示衷心的感谢!
如果您想了解更多关于IPFA2009的信息,欢迎您发送邮件到ipfa@falab.cn. 或拨打电话0512-69170010-199 或836。
期待您的参与!感谢您对IPFA 2009 组委会的支持和帮助!
祝您和家人新年快乐!祝您在2009年身体健康,心想事成,万事如意,事业蒸蒸日上。
Technical Chair, IPFA 2009
Email: lamtflin@yahoo.com
General Chairmen, IPFA2009
Email: xzsong@suntech-power.com
Secretary Assitant, IPFA 2009